放射光横断課題実施報告書
様式F15_CSFPRIA_2018A2018A0000 BL19B2
○○
における△△の解析
Analysis on
△△
for ○○
（課題名/Title - bold）
（英文タイトル中の単語[名詞,動詞,形容詞,副詞]は、語頭だけ大文字にして下さい。）
高輝度 太郎a, 産業 花子 b
Taro Kokidoa, Hanako Sangyob
（著者/共著者/Author：実験責任者にはアンダーライン）
a(公財)高輝度光科学研究センター, b(株)重点産業工業 aJASRI, bJutensangyo Industrial. Co. Ltd.
（所属機関/Affiliation）
（アブストラクト／和文 200字程度）目的、方法、重要な結果等を、簡潔明瞭にご記載下さい。 ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・。
キーワード： Ａ、Ｂ、Ｃ 測定対象、測定手法、測定目的、解析手法など
背景と研究目的：
他施設での実施状況についても簡単に記載してください。 ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ [1]、・・・ ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・。
実験：
他施設での実験結果についても可能な範囲でご記載ください。
測定試料、測定条件について下記を参考に具体的にご記載下さい。（単位は原則SI単位系で、数値と単 位の間には半角分のスペースを入れて下さい。なお、物理量はイタリック（例 d（格子面間隔）、q（波数） 等）で記載してください）
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・[2]。・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・[3]。
表1．＊＊＊＊＊＊＊（説明文を日本語で入れて下さい。）
試料：試料名とその特徴（例：形状、組成、製法、物性、機能等）
実験条件：実施ビームライン。（他施設のビームラインもご記載ください）
・回折・散乱の場合
X線エネルギー（波長）、入射X線形状（サイズ、スリット開口）、使用装置 多軸回折装置
受光側コリメーション（スリット開口、ソーラースリット発散角）、検出器（IP、PILATUS,シンチレーションカウンタ 等）
小角散乱 カメラ長（較正方法も含む）、検出器、露光時間 粉末回折 キャピラリー材質と径、（露光時間）
・XAFSの場合
測定対象元素と吸収端（K, LI, LII, LIII）、モノクロ結晶面方位、測定手法（透過、蛍光、CEY）、蛍光法XAFSの検出器
（19SSD、Lytle(ガス種)）、斜入射の場合は入射角（全反射であれば、臨界角に対する関係） ・HAXPESの場合
X線エネルギー（較正方法も含む）、パスエネルギー、スリット形状、光電子検出角度（TOA）、中和銃使用有無 ・イメージングの場合
X線エネルギー、入射光形状、検出器、（露光時間） 屈折コントラスト カメラ長
CT 試料方位角間隔（再構成に用いた画像数）
放射光横断課題実施報告書
様式F15_CSFPRIA_2018A・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・。
結果および考察：
下記を参考に、図表を用いて測定結果を具体的にわかりやすくご記載下さい。
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今後の課題：（必要であれば）
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参考文献：（本文中では [ ]で引用を示してください）
[1] T. Kokido, H. Sangyo, Chem. Phys. Rev. 104, 4891 (2004).（論文タイトルは不要です）
[2] T. Kokido, in“Photochemistry and Photophisics”, H. Sangyo, ed., JASRI Press, Sayo, 1990, Chapter 4, P. 119.
[3] 高輝度太郎、産業花子、SPring-8利用者情報、14 (2), 77 (2009).
[4] 高輝度三郎 他、平成22年度 重点産業利用課題報告書(2010A), pp. 299, 2010A1783. (著者が3名以上の場合は筆頭者のみを記載してください。最後に課題番号を記載してください)
図について：bmp.、gif.、jpg.、png.、（tif.）で貼付けて下さい。（PDFの貼付けは不可）
縦軸、横軸ともに量の名称（散乱角、2θ、波数、q等）単位を忘れずにご記載下さい。量は一般
的な名称でご記載下さい（例：XAFSでχ(R)は不可）。
*ご注意 冊子(紙媒体)ではグレースケールで印刷されます。WEBではフルカラーで掲載されます。
・回折・散乱の場合 多軸回折装置
典型的な測定データ（通常は、検出強度-散乱角） 小角散乱
二次元測定データ及びI-qの一次元化データ 粉末回折
典型的な測定データ（I-q もしくはI-2θ） ・XAFSの場合
XANES
測定したXANESスペクトル EXAFS
knχ(k):n=1,2,3、RSFは必須。配位数、配位距離導出の場合は、knχ(k)等のfitting結果も必須
測定したXAFSスペクトルの典型例があることが望ましい。 ・HAXPESの場合
測定スペクトル、（profile fittingをした場合はバックグラウンド推定法を記載） ・イメージングの場合
像、もしくは再構成イメージや断層図
・原則2ページ以上4ページまでで作成して下さい。 ・図、表は文中に必ず入れて下さい。
・引用文献については、文献番号を文中で明記して下さい。
・一般的でない略語は原則として、何の略語かを本文中の初出のところで明記して下さい。 ・タイトルには原則として、略語を使わないで下さい。
・本文および図表中の物理量を表す記号は、イタリックで表示して下さい。 ・書式詳細は、別紙（書式 F15_IA_format）をご参照下さい。
・当報告書作成に使用した機器の「OS」および「アプリケーション」の名称を欄外へ記載して下さ い。
雑誌の場合
[文献番号] 著者名, 雑誌名(英文の時はイタリックで), 巻番号(ボールドで), ページ, (発行年). 単行本の場合
